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产品目录:   CDNY-03AM光学膜层厚度测量控制仪
测厚仪 测振仪  
        CDNY-03AM光学膜层厚度测量控制仪是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流
转速表 探伤仪   漂移具有极强的抑制能力。
 
测温仪 观片灯   主要性能指标及技术指标
  主信号通道:
密度计 粘度计   信号输入方式:单端交流输入
  输入量程:0.5mV-500mV
熔点仪 应力仪   信号频率范围:1KHz±5%
  本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
硬度计 抛光机   性误差: ≤0.1%
  零点时源: ≤0.2%/h
镶嵌机 切割机   参考信号通道:
  信号输入方式:单端交流输入
  输入幅度:20-700mV
手机:13817241199   频率范围:≥320。
电话总机:021-50854586  
QQ号:416018669  
QQ号:1091065325  
邮箱:416018669@qq.com      
 
 
 
收款账户账号:   JYK-MHY光学膜厚控制仪
户名:上海华岩仪器设备有限公司  
开户行:工行上海市三林支行   JYK-MHY光学膜厚控制仪特点:
账号:1001188409006910123   1.量程选择分为8档:0.5、5、25、50、100、200、300、500mv
  2.不会因量程选择不当而导致仪器内部放大过冲的现象。
公司支付宝账号:   3.响应时间分为5档:0.5、2.5、5、10、20秒。
huayansh@163.com   4.锁定方式:由调峰式改为调零式加90°或180°选择,克服过去峰点难照准的缺陷
  5.同步/扩展:由过去扩展10倍12次延伸至18次,增加了仪器的储备。
 
  技术指标:
  主信号(光路信号) 参考信号(光电池) 
  单端输入0.5-500mv(8档可调) 单端输入≥20mv 
  频率 1000Hz±5% 频率1000Hz±5% 
  500Hz±5% 500Hz±5% 
  250Hz±5% 250Hz±5% 
  响应时间:0.5-20秒(5档可调)
  锁相方式:手动--调零+90°键或+180°键切换
  输出电压:0-10v(应数字表0-199.9)
  线性度:≤0.1%
  稳定度:数字表±0.1%模拟表±1%
  温度漂移:≤0.2%/小时
  工作电压:AC 220V/50Hz
  功耗:约21W
  工作环境:0-40℃35-85%RH
  体积:480x275x80
  重量:约
 
   
 
     
 
 
 
  MKY-III型光学膜厚控制仪
 
        MKY-Ⅲ型光学膜厚控制仪是一种以极值控制为主的光电式膜厚控制仪器。仪器高阻输入端适用于真空光电管或光电倍增管,作接收元件的控制系统。
  低阻输入端适用于硅光电池、硒光电池等,作接收元件的控制系统。仪器除用交流极值法控制膜厚外,还可以用一个表头指示光电信号对时间的微分值,帮
  助准确控制极值点,提高控制准确度。主副表头可方便对量程进行扩展补偿。该仪器灵敏度高、量程宽、控制准确、使用调整方便。广泛应用于真空镀膜领域。
  ·主心频率:970~1000Hz
  ·放大器带宽:150~250Hz
  ·灵敏度:高阻挡满度值输入电压:10μV 低阻挡满度值输入电压:0.1μV
  ·等效开路输入噪声:高阻挡≤1μV
  低阻挡≤0.02μV
  ·线  性:2.5%
  ·稳 定 性:±0.1%/5分钟
  ·对50Hz、100Hz抑制:>1000倍
  ·量程范围:高阻挡:1V~0.1mV(可扩展至10μV)
  低阻挡:10mV~1μV( 可扩展至0.1μV)
  ·外型尺寸:440×300×169mm